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X荧光镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪 /射线镀层、涂层测厚仪

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    性能优势:
     
       下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
     
       无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
     
       微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
     
       高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
     
       精密微型滑轨:快速精准定位样品。
     
       EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
     
     
     
      仪器规格:
     
      外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (长x宽x高)
     
      样品仓尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (长x宽x高)
     
      仪器重量 :55kg
     
      供电电源 :交流220±5V
     
      最大功率 :330W
     
      环境温度:15℃-30℃
     
      环境相对湿度:<70%

     
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