更广的分析范围：用于地矿、合金、及贵金属等物质中Na(11)-U(92)元素的成分分析；可检测Li(3)-U(92)的涂镀层分析
无损变焦检测技术：可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm
自主研发EFP算法：先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题
智能超密闭真空系统：智能超抽密闭真空系统，排除环境对检测结果的干扰，测量范围更广，测量结果更准确
先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：高性能SDD硅漂移探测器，测量精度纳米级
XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪，配备智能抽真空系统，高性能的屏蔽性能去除大气对低能元素的影响，对Na、Mg、Al、Si、P等轻元素镀层厚度及成分测试精度更高.测量C-U元素，Li-U的涂镀层。
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